Описание:
Leica EM BAF060 – система для крио-травления/крио-разлома. Самая современная система подготовки образца по технологии охлажденное травление/разлом имеет активную систему подачи хладагента для постоянной подготовки образца без температурных флуктуаций.
Методы: крио-травление/разлом, двойной реплики (зеркальный разлом), крио-сушка, покрытие углерод/металл для анализа ПЭМ и СЭМ, двуслойное покрытие образцов для крио-СЭМ анализа.
- Отличные условия создания высокого вакуума предотвращает образец от контаминации и позволяет сублимацию на низких температурах.
- Эргономичный дизайн и безопасность в работе.
- Стереомикроскоп с высокими оптическими характеристиками.
- Функция автоматического отключения системы охлаждения.
- Светодиодное освещение для наблюдения процесса подготовки образца.
- Возможность подключения крио-системы переноса Leica VCT 100 для крио-СЭМ анализа.